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J-GLOBAL ID：200903053276774893

撮像装置

Inventor： 伊藤 広
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 最上 健治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001154805
Publication number (International publication number)：2002354340
Application date： May. 24, 2001
Publication date： Dec. 06, 2002
Summary：

【要約】【課題】 経時変化による後発的に発生した欠陥画素、或いは特定動作モードで過渡的に発生する欠陥画素を高精度で検出し補正できるようにした撮像装置を提供する。【解決手段】 CCD撮像素子3と、該撮像素子への入射光を遮光する遮光板2と、遮光板と撮像素子を制御して露光時間を設定する露光期間制御部5と、遮光板で遮光した状態で撮像素子から得られる暗時信号を記憶する暗時信号記憶部6と、撮像素子の本撮像信号から暗時信号を減算する減算部7と、該減算部から出力される減算撮像信号から欠陥を検出する欠陥検出部8と、検出された欠陥画素の補正処理を行う欠陥補正部9とで撮像装置を構成する。

Claim (excerpt)：

撮像素子と、該撮像素子への入射光を遮光する遮光手段と、本撮影時に撮像手段から得られる本撮像信号から入射光遮光時の撮像素子の出力信号である暗時信号を減じる減算手段と、該減算手段からの減算撮像信号に対して前記撮像素子の欠陥画素に起因する欠陥信号を補正する補正手段と、前記撮像素子の外的要因による欠陥画素の発生数に対応させた時間の暗時信号を得るべく、本撮影に連続する前又は後に、前記遮光手段を制御する制御手段とを具備する撮像装置。

IPC (4)：

H04N 5/243 ,  G06T 1/00 460 ,  H04N 1/401 ,  H04N 5/335

FI (4)：

H04N 5/243 ,  G06T 1/00 460 E ,  H04N 5/335 P ,  H04N 1/40 101 A

F-Term (41)：

5B047AB02 ,  5B047BA03 ,  5B047BB04 ,  5B047BC05 ,  5B047BC06 ,  5B047CB03 ,  5B047CB05 ,  5B047CB22 ,  5B047DA06 ,  5B047DB01 ,  5B047DC09 ,  5C022AB21 ,  5C022AB37 ,  5C022AB44 ,  5C022AB51 ,  5C022AC42 ,  5C022AC52 ,  5C022AC69 ,  5C024CX23 ,  5C024CX32 ,  5C024DX07 ,  5C024GY01 ,  5C024GY31 ,  5C024HX22 ,  5C024HX23 ,  5C024HX29 ,  5C024HX30 ,  5C024HX57 ,  5C077LL04 ,  5C077MM03 ,  5C077MP01 ,  5C077PP06 ,  5C077PP07 ,  5C077PP08 ,  5C077PP10 ,  5C077PQ12 ,  5C077PQ20 ,  5C077PQ25 ,  5C077SS01 ,  5C077TT06 ,  5C077TT09