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J-GLOBAL ID：200903053284808713

画像検査装置

Inventor： 植田 秀司 ,  小林 彰
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 小鍜治 明 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991217466
Publication number (International publication number)：1993052767
Application date： Aug. 28, 1991
Publication date： Mar. 02, 1993
Summary：

【要約】【目的】 電子部品の生産工程において、製品の外観検査、特に微小なごみ、傷や汚れを自動検査するものである。【構成】 対象物の画像を撮像するカメラ12と、A/D変換器18と、デジタル画像加算手段により作成されたフレームメモリー15と、フレームメモリー15に記憶させたディジタル画像に対し、特徴を抽出することにより、高速な異常検出を実現する。

Claim (excerpt)：

対象物の画像を撮像する撮像手段と、アナログ信号をデジタルデータに変換するA/D変換手段と、デジタル画像データに対して画像演算を行う前処理画像演算手段と、前処理画像演算手段によって処理されたデジタル画像データを複数枚加算するデジタル画像加算手段と、デジタル加算手段により作成されたデジタル画像を記憶するフレームメモリーと、デジタル画像の流れを制御するデジタル画像手段と、フレームメモリーに記憶されたデジタル画像に対して特徴を抽出処理を行う特徴抽出手段を備えていることを特徴とする画像検査装置。

IPC (5)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/24 ,  G06F 15/62 400 ,  G06F 15/70 330 ,  H04N 7/18

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 画像検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-193857   Applicant：松下電器産業株式会社