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J-GLOBAL ID：200903053438021142

磁気デイスクにおける潤滑膜の評価試験方法及び評価試験装置

Inventor： 日野林 武夫 ,  中村 幸雄
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 久保 幸雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991221686
Publication number (International publication number)：1993060679
Application date： Sep. 02, 1991
Publication date： Mar. 12, 1993
Summary：

【要約】【目的】本発明は磁気ディスクにおける潤滑膜の評価試験方法及び評価試験装置に関し、潤滑膜に係わる種々の現象を起こり易くすることによって評価試験の迅速化を図ることを目的とする。【構成】潤滑膜15とスライダ2とを相対的に摺動させながら潤滑膜15を加熱し、これによるヘッド吸着などの種々の現象の有無を摺動摩擦力の変化の形で捉えるように構成される。

Claim (excerpt)：

潤滑膜(15)とスライダ(2)とを相対的に摺動させながら当該潤滑膜(15)を加熱し、これと並行して摺動摩擦力を測定することを特徴とする磁気ディスクにおける潤滑膜の評価試験方法。