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J-GLOBAL ID：200903053441720965
非磁性近見反応計測方法および装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
工業技術院生命工学工業技術研究所長
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996050686
Publication number (International publication number)：1997238903
Application date： Mar. 08, 1996
Publication date： Sep. 16, 1997
Summary：
【要約】【課題】 磁気ノイズの影響を受けることなく、眼の視覚刺激に対する反応と脳内の反応との同時計測を可能とする。【解決手段】 磁気シールド室10内に被検者の脳内の反応を計測する脳内反応計測装置20を設置し、眼の歪まない実像を所定距離離れた位置に結像させるリレーレンズ系32が搭載された非磁性部材30の一端を磁気シールド室10内の被検者の眼の位置に、他端を磁気シールド室10外の所定の位置に位置させ、リレーレンズ系32が搭載された非磁性部材30の他端位置に被検者の眼に対する調節刺激を与える調節刺激付与装置および眼反応計測装置50を配置し、調節刺激付与装置50により被検者の眼に対して調節刺激を与えつつ、眼および脳内反応計測装置で調節刺激に対する眼および脳内反応を計測するようにした。
Claim (excerpt)：
磁気シールド室内に被検者の脳内の反応を計測する脳内反応計測装置を設置し、眼の歪まない実像を所定距離離れた位置に結像させるリレーレンズ系が搭載された非磁性部材の一端を前記磁気シールド室内の被検者の眼の位置に、他端を前記磁気シールド室外の所定の位置に位置させ、前記リレーレンズ系が搭載された非磁性部材の他端位置に前記被検者の眼に対する調節刺激を与える調節刺激付与装置および該調節刺激に対する眼の反応を計測する眼反応計測装置を配置し、前記調節刺激付与装置により前記被検者の眼に対して調節刺激を与えつつ、前記眼および脳内反応計測装置で前記調節刺激に対する眼および脳内反応を同時に計測することを特徴とする非磁性近見反応計測方法。
IPC (2)：
FI (2)：
A61B 3/10 M
, A61B 5/05 A
