Pat

J-GLOBAL ID：200903053495082352

学習テスト方法及び学習テストシステム

Inventor： 山本 勝利
Applicant, Patent owner： 株式会社ティエラコム
Agent (1)： 恩田 博宣 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000303559
Publication number (International publication number)：2002108199
Application date： Oct. 03, 2000
Publication date： Apr. 10, 2002
Summary：

【要約】【課題】 ユーザの解答履歴に応じてその結果をユーザに提供し、さらにその結果に基づいて次のテストを提供し、ユーザの学習効果を高めることができる学習テスト方法及び学習テストシステムを提供する。【解決手段】 管理コンピュータ21は、ユーザに学習テストを提供する。ユーザが解答を入力した場合、その解答時刻を記録し、その解答時刻から解答時間を算出する。管理コンピュータ21は、解答時間と予め設定された基準解答時間とを比較し、その結果を記録する。管理コンピュータ21は前記結果に基づいて、ユーザにコメントを提供する。さらに、前記結果に基づいて次の学習テストを作成する。これにより、ユーザ毎の問題点に対応した学習テストを提供できる。

Claim (excerpt)：

コンピュータを利用して、ユーザに学習テストを提供する方法であって、ユーザに学習テストを提示する第1の段階と、前記学習テストに含まれるテスト問題に対して、前記ユーザが入力した解答と解答に要した解答時間とを記録する第2の段階と、前記解答時間と予め設定された基準解答時間とを比較し、その結果を記録する第3の段階とを有することを特徴とする学習テスト方法。

IPC (6)：

G09B 19/00 ,  G06F 17/60 ZEC ,  G06F 17/60 128 ,  G06F 17/60 302 ,  G06F 17/60 330 ,  G09B 5/08

FI (6)：

G09B 19/00 G ,  G06F 17/60 ZEC ,  G06F 17/60 128 ,  G06F 17/60 302 C ,  G06F 17/60 330 ,  G09B 5/08

F-Term (23)：

2C028AA07 ,  2C028BA01 ,  2C028BB04 ,  2C028BB05 ,  2C028BC01 ,  2C028BC03 ,  2C028BD02 ,  2C028BD03 ,  2C028CA12 ,  2C028CB13 ,  2C028DA04 ,  5B049BB22 ,  5B049BB23 ,  5B049CC21 ,  5B049CC31 ,  5B049DD00 ,  5B049EE01 ,  5B049EE59 ,  5B049FF03 ,  5B049FF04 ,  5B049FF07 ,  5B049GG04 ,  5B049GG07