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J-GLOBAL ID:200903053536094727

分布データ計測装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 野河 信太郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996024231
Publication number (International publication number):1997218147
Application date: Feb. 09, 1996
Publication date: Aug. 19, 1997
Summary:
【要約】【課題】 分布データの分布図における分布形態を定量的に計測する。【解決手段】 粒子含有試料を測定して得られた実測分布データを入力する入力部と、入力されたデータを処理するデータ処理部と、処理されたデータを出力する出力部を備え、データ処理部は、入力された実測分布データから統計学的パラメータを抽出する抽出部と、統計学的パラメータに基づいて実測分布データを近似式で近似する近似部と、前記近似式によって疑似分布データを算出し実測分布データと比較して両者の近似度を定量化する定量化部と、疑似分布データの分布図上における分布形態を表わす形態パラメータを前記統計学的パラメータに基づいて算出する算出部を備える。
Claim (excerpt):
粒子含有試料を測定して得られた実測分布データを入力する入力部と、入力されたデータを処理するデータ処理部と、処理されたデータを出力する出力部を備え、データ処理部は、入力された実測分布データから統計学的パラメータを抽出する抽出部と、統計学的パラメータに基づいて実測分布データを近似式で近似する近似部と、前記近似式によって疑似分布データを算出し実測分布データと比較して両者の近似度を定量化する定量化部と、疑似分布データの分布図上における分布形態を表わす形態パラメータを前記統計学的パラメータに基づいて算出する算出部を備えることを特徴とする分布データ計測装置。

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