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J-GLOBAL ID:200903053596391100

歪み計測装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 工藤 実 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998018072
Publication number (International publication number):1999201735
Application date: Jan. 13, 1998
Publication date: Jul. 30, 1999
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】 温度分布計測器を必要とすることなく、被計測物に局所的な温度変化が起きても正確に温度変化に対する補正演算を行う。【解決手段】 二つの部分からなる光ファイバー1で、第1の光ファイバー部分1a-1bは被計測物に固定して配設され、被計測物の伸縮に従って伸縮し、第2の光ファイバー部分1c-1dは第1の光ファイバー部分に並設して、被計測物の伸縮に関係なく伸縮自在に設けられ、第1の光ファイバー部分と同じ温度環境に置かれる光ファイバーと、光ファイバーの歪み量分布を計測する歪分布計測器5と、第1の光ファイバー部分に対する全体歪み量分布を計算するための第1の歪み分布計算器6と、第2の光ファイバー部分に対する歪み量分布を計算して第1の光ファイバー部分に対する温度依存歪み量分布を計算する第2の歪み分布計算器7と、及び実歪み量分布を計算する処理器8とを具備する。
Claim (excerpt):
第1の光ファイバー部分と第2の光ファイバー部分からなる光ファイバーであって、前記第1の光ファイバー部分は被計測物に固定して配設され、その配設方向の前記被計測物の伸縮に従って伸縮し、前記第2の光ファイバー部分は前記第1の光ファイバー部分に並設され、前記被計測物の伸縮に関係なく伸縮自在に設けられ、前記第1の光ファイバー部分と同じ温度環境に置かれる光ファイバーと、前記光ファイバーの歪み量分布を計測する歪分布計測器と、前記第1の光ファイバー部分に対する全体歪み量分布を計算するための第1の歪み分布計算器と、前記第2の光ファイバー部分に対する歪み量分布を計算して前記第1の光ファイバー部分に対する温度依存歪み量分布を計算する第2の歪み分布計算器と、及び前記全体歪み量分布と前記温度依存歪み量分布とから実歪み量分布を計算する処理器とを具備する歪み計測装置。
IPC (3):
G01B 11/16 ,  G01D 3/028 ,  G02B 6/00
FI (3):
G01B 11/16 Z ,  G01D 3/04 D ,  G02B 6/00 B
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 特開平4-134204

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