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J-GLOBAL ID:200903053603044195

配向性カーボンナノチューブ膜およびその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (6): 社本 一夫 ,  増井 忠弐 ,  小林 泰 ,  千葉 昭男 ,  富田 博行 ,  戸水 辰男
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003120697
Publication number (International publication number):2004002182
Application date: Mar. 20, 2003
Publication date: Jan. 08, 2004
Summary:
【課題】配向した多数本のカーボンナノチューブから構成される配向性カーボンナノチューブ膜の製造方法の提供および、電界放出特性等に優れた性能を有する細いカーボンナノチューブからなる配向膜。【解決手段】0.1〜50nmの細孔を有するゾルゲル法多孔質担体に触媒微粒子を担持し、炭素化合物を分解することにより該担体表面に該担体と垂直方向に配向性のあるカーボンナノチューブの膜を形成させる。原料ゾルには、アルミナ微粒子、水酸化アルミニウム微粒子、シリカ微粒子あるいはその混合物の分散液を用いる。または、アルミニウムアルコキシド、アルコキシシランあるいはその混合物あるいはその溶液を用い、微細孔テンプレートとして、可燃性あるいは熱分解性の有機化合物を添加したものを用いる。【選択図】 図2
Claim (excerpt):
0.1〜50nmの細孔を有するゾルゲル法多孔質担体を作製し、これに担持した触媒を用いて炭素化合物を分解することにより、該多孔質担体に垂直に配向したカーボンナノチューブ膜を製造することを特徴とする配向性カーボンナノチューブ膜の製造方法。
IPC (9):
C01B31/02 ,  B01J21/12 ,  B01J23/75 ,  B01J32/00 ,  B82B3/00 ,  C01B33/00 ,  C01B33/12 ,  C01F7/02 ,  H01J9/02
FI (9):
C01B31/02 101F ,  B01J21/12 M ,  B01J32/00 ,  B82B3/00 ,  C01B33/00 ,  C01B33/12 Z ,  C01F7/02 G ,  H01J9/02 B ,  B01J23/74 311M
F-Term (65):
4G069AA03 ,  4G069AA08 ,  4G069BA03A ,  4G069BA03B ,  4G069BC59A ,  4G069BC66A ,  4G069BC67A ,  4G069BC67B ,  4G069BC68A ,  4G069CD10 ,  4G069DA06 ,  4G069EA01Y ,  4G069FB13 ,  4G072AA36 ,  4G072AA38 ,  4G072BB02 ,  4G072GG02 ,  4G072GG03 ,  4G072HH14 ,  4G072JJ26 ,  4G072LL05 ,  4G072MM01 ,  4G072PP17 ,  4G072QQ06 ,  4G072QQ09 ,  4G072RR11 ,  4G072RR15 ,  4G072UU01 ,  4G076AA02 ,  4G076AA30 ,  4G076AB11 ,  4G076BA03 ,  4G076BA13 ,  4G076BB02 ,  4G076BC02 ,  4G076BC05 ,  4G076BF04 ,  4G076BF06 ,  4G076CA10 ,  4G076CA11 ,  4G146AA11 ,  4G146AB07 ,  4G146AD24 ,  4G146AD29 ,  4G146AD32 ,  4G146BA12 ,  4G146BA42 ,  4G146BB23 ,  4G146BC03 ,  4G146BC08 ,  4G146BC44 ,  5C127BA09 ,  5C127BB07 ,  5C127CC03 ,  5C127CC62 ,  5C127CC63 ,  5C127CC66 ,  5C127CC67 ,  5C127DD12 ,  5C127DD20 ,  5C127DD38 ,  5C127DD39 ,  5C127DD63 ,  5C127DD64 ,  5C127EE17
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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Article cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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