Pat
J-GLOBAL ID：200903053671467673
物体測定装置
Inventor：
,
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
永田 良昭
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996257811
Publication number (International publication number)：1998082855
Application date： Sep. 05, 1996
Publication date： Mar. 31, 1998
Summary：
【要約】【目的】受波波形の後半部(右側スロープ部)のみを圧縮する手段を設け、この手段で圧縮された受波波形を所定のしきい値と比較して被検物体に関するパラメータを測定することで、送波波形の前半部に上述の如き反射波(受波波形)が上乗されているような場合においても、アナログ的な簡単な回路構成にて的確に受波波形の検出を行なうことができ、しかも比較的変動しやすい右側スロープ部の圧縮により誤検知を低減させることができ、さらには残響信号の右側スロープ部(残響波部)を圧縮することにより、残響に起因するばらつきの低減を図り、これにより安価な送波装置での対応が可能となる物体測定装置の提供を目的とする。【解決手段】波動を所定検知方向に向けて送波装置5で送波し、被検物体6で反射された上記波動を受波装置7にて受波して電気信号に変換し、被検物体6に関するパラメータを測定する物体測定装置であって、受波波形の後半部のみを圧縮する手段11を備え、上記手段11で圧縮された受波波形を所定のしきい値と比較10して上記パラメータを測定することを特徴とする。
Claim (excerpt)：
波動を所定検知方向に向けて送波装置で送波し、被検物体で反射された上記波動を受波装置にて受波して電気信号に変換し、被検物体に関するパラメータを測定する物体測定装置であって、受波波形の後半部のみを圧縮する手段を備え、上記手段で圧縮された受波波形を所定のしきい値と比較して上記パラメータを測定する物体測定装置。
IPC (2)：
FI (2)：
Return to Previous Page
