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J-GLOBAL ID:200903053751953137

光ネットワークアナライザ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 鈴江 武彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992225817
Publication number (International publication number):1994074867
Application date: Aug. 25, 1992
Publication date: Mar. 18, 1994
Summary:
【要約】【目的】この発明の目的は、被測定光回路装置の振幅分散及び群遅延時間分散の特性を測定し、かつ特定の周波数での特性を高精度に測定することにある。【構成】この発明に係る光ネットワークアナライザは、第1の光源からの光出力を一定周波数一定振幅の変調信号で強度変調した後、一部分岐して基準光信号とすると共に被測定光回路装置に通して被測定光信号を取り込む。そして、これらの被測定光信号及び基準光信号をそれぞれ光電変換し、変調信号成分を取り出して比較することでその振幅比及び位相差を求める。さらに、光源の光周波数を一定周期で掃引し、この掃引制御に同期して振幅/位相比較結果を表示器に表示する。また、第2の光源から指定した光周波数の光を送出させ、第1の光源の光出力と合流させて、指定光周波数でピークを作り、そのピーク位置を電気的に取り出して、上記表示器にマーカとして重畳表示する。
Claim (excerpt):
光周波数を可変可能な第1の光源と、この光源からの光出力を一定周波数一定振幅の変調信号で強度変調する光変調部と、この光変調部の光出力の一部を分岐して基準光信号とする光分岐部と、前記光変調部の光出力を被測定光回路装置に通しその光出力を取り込む接続部と、この接続部で得られる被測定光回路装置の光出力及び前記基準光信号をそれぞれ光電変換する第1の光電変換部と、この光電変換部で得られる2つの電気信号についてそれぞれ前記変調信号成分を取り出し比較することでその振幅比及び位相差を求める振幅/位相比較部と、前記光源の光周波数を一定周期で掃引する光源制御部と、この光源制御部の掃引制御に同期して前記振幅/位相比較部の比較結果を表示する表示部とを具備する光ネットワークアナライザ。
IPC (2):
G01M 11/02 ,  G01J 9/00
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 特開昭62-156535
  • 特開昭63-115027
  • 特開昭63-045515

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