Pat
J-GLOBAL ID：200903053758101721
蛍光磁粉探傷法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
矢葺 知之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993091602
Publication number (International publication number)：1994300739
Application date： Apr. 19, 1993
Publication date： Oct. 28, 1994
Summary：
【要約】【目的】 強磁性体の表面欠陥を検出するに際し利用される蛍光磁粉探傷を改善し、従来の方式より欠陥検出精度と欠陥深さの弁別性を画期的に向上させ、自動手入れ装置と直結出来る蛍光磁粉探傷法を提供する。【構成】 蛍光磁粉探傷法において、適用する磁粉を複数の粒度に分級して、それぞれ違った色の蛍光を発する蛍光体を被覆した蛍光磁粉を磁化したひ被検査材3に適用し、欠陥部に付着させ、紫外線をあてて発光させ、カラーカメラ8で撮影し、得られる電気信号の明度成分と色相成分から欠陥深さを推定する。
Claim (excerpt)：
適用する磁粉を複数の粒度に分級して、それぞれ違った色の蛍光を発する蛍光体を被覆した蛍光磁粉を磁化した被検査材に適用し、欠陥部に付着させ、紫外線をあてて発光させ、カラーカメラで撮影し、得られる電気信号の明度成分と色相成分から欠陥深さを推定することを特徴とする蛍光磁粉探傷法。
IPC (2)：
Return to Previous Page
