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J-GLOBAL ID：200903053779568018

超音波探傷検査方法

Inventor： 名村 道弘
Applicant, Patent owner： 石川島播磨重工業株式会社
Agent (1)： 山田 恒光 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992183139
Publication number (International publication number)：1994003339
Application date： Jun. 17, 1992
Publication date： Jan. 11, 1994
Summary：

【要約】【目的】 記録チャート紙と被検体の検査箇所の照合を容易且つ正確に行い得るようにする。【構成】 被検体5の検査箇所の近傍に超音波反射源14を設けておき、超音波探傷検査時に、超音波反射源14も超音波探傷して記録チャート紙にエコーやその反射源を表示する。

Claim (excerpt)：

所定位置に超音波反射源を設けた被検体を、該超音波反射源をも含めて超音波探傷し、その結果を記録チャート紙に記録することを特徴とする超音波探傷検査方法。