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J-GLOBAL ID:200903053810973180
成膜装置及び成膜方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
岡本 啓三
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994007895
Publication number (International publication number):1995111261
Application date: Jan. 27, 1994
Publication date: Apr. 25, 1995
Summary:
【要約】【目的】 本発明は反応ガスをプラズマ化することで活性化してCVD法(化学気相成長法)により絶縁膜等を形成する膜形成方法に関し、簡単な装置構成で、膜質のよい絶縁膜を形成することができる膜形成方法を提供する。【構成】 第1の反応ガスに電磁波を放射し、かつ磁場を印加して第1の反応ガスからなるヘリコンモードのプラズマを発生させ、第2の反応ガスをプラズマにより活性化し、基板を電圧によりバイアスし、活性化した第1の反応ガスと第2の反応ガスとを反応させて基板上に膜を形成することを含む。
Claim (excerpt):
ヘリコンモードのプラズマを生成するプラズマ生成室と、前記プラズマ生成室に第1の反応ガスを導入する第1の反応ガス導入管と、前記プラズマ生成室内に電磁波を放射して前記第1の反応ガスを活性化する、前記プラズマ生成室の周囲に設けられたアンテナと、前記プラズマ生成室内に磁場を形成する、前記プラズマ生成室の周囲に設けられたソースソレノイドと、前記プラズマ生成室に接続された成膜室と、前記プラズマ生成室内及び前記成膜室内を排気する排気口と、成膜される基板を保持する、前記成膜室内に設けられた基板保持具と、前記基板保持具の上方に第2の反応ガスを導き、前記第2の反応ガスを基板保持具上の基板表面に放出する第2の反応ガス導入管とを有する成膜装置。
IPC (4):
H01L 21/31
, C23C 16/44
, H01L 21/205
, H01L 21/316
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
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特開昭63-166971
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プラズマ処理方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-091813
Applicant:日電アネルバ株式会社
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