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J-GLOBAL ID：200903053988861334

蛍光X線分析に使用する試料の調製法

Inventor： 井上 稔
Applicant, Patent owner： 理学電機工業株式会社
Agent (1)： 杉本 修司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994339435
Publication number (International publication number)：1995270288
Application date： Dec. 29, 1994
Publication date： Oct. 20, 1995
Summary：

【要約】【目的】 容易に均一な固体試料の調製ができ、安全で正確な測定が行えて、軽元素の分析に有利であり、また、He置換を行う必要がなく、真空条件下での測定が可能な油状試料の調製法を提供する。【構成】 油状試料を油固化剤で凝固させて調製する。

Claim (excerpt)：

蛍光X線分析に使用される油状試料を調製する方法であって、油状試料を油固化剤で凝固させて調製する試料の調製法。

IPC (3)：

G01N 1/36 ,  G01N 1/28 ,  G01N 23/223

FI (2)：

G01N 1/28 Z ,  G01N 1/28 K

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭60-186738
  
• 特公昭60-054092