Pat
J-GLOBAL ID:200903054053776718

DNAの損傷ならびにこれら損傷のリガンドの定性的および定量的検出法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 佐藤 一雄 (外3名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1998550054
Publication number (International publication number):2002500511
Application date: May. 20, 1998
Publication date: Jan. 08, 2002
Summary:
【要約】本発明はDNA配列中の変異を実証する方法であって、a)同定を可能にする媒質中で、DNA配列を、リガンドと呼ばれる、関連する変異のタイプを同定する少なくとも1種の化合物を含んでなる組成物の存在下にさらし;(b)このリガンドにより変異の存在を明らかにすることを特徴とする方法に関する。本発明は、DNAサンプルにおいて媒質によりもたらされた変異を測定することによる媒質の遺伝子傷害性を実証するのに、またDNA修復系の変異を実証するのに有用である。
Claim (excerpt):
DNA配列の損傷を同定する方法であって、 a)認識を可能とする媒質中で、DNA配列を、リガンドと呼ばれる、関連する損傷のタイプを認識する少なくとも1種の化合物を含有する組成物と接触させ、 b)そのリガンドによって損傷の認識を検出することを含んでなる方法。
IPC (2):
C12N 15/09 ZNA ,  C12Q 1/68
FI (2):
C12Q 1/68 ,  C12N 15/00 ZNA A
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

Return to Previous Page