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J-GLOBAL ID:200903054115540481
物質構造の精密構造解析方法、プログラム、システムおよび物質の製造方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Agent (1):
社本 一夫 (外5名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001376969
Publication number (International publication number):2003177106
Application date: Dec. 11, 2001
Publication date: Jun. 27, 2003
Summary:
【要約】【課題】 X線または中性子線による蛋白質の構造解析、および、蛋白質の機能を明らかにすること。【解決手段】 機能性材料及び生体高分子材料の機能を研究する上で重要な情報となる構造の情報を、X線回折データ、または中性子線回折データをもとに、分子量として約2〜3千以上、即ち有機物質類、蛋白質、複合蛋白質等の大きな分子、すなわち高分子材料の結晶構造における原子位置、更に電子状態の情報までを含めた構造を電子密度のレベルで提供する精密構造解析方法にマキシマム・エントロピー法を用いた。
Claim (excerpt):
高分子材料の結晶構造解析に対して、マキシマム・エントロピー法を適用する方法において、事前の電子密度または原子核密度として、均一な電子密度または原子核密度を用い、マキシマム・エントロピー法にもとづく逐次解法を行い、精密な電子密度分布または原子核密度分布を求める方法であって、その際、前記いずれかの密度分布の精密化は、実験的に得られた観測結晶構造因子と、マキシマム・エントロピー法により得られた前記いずれかの密度分布から計算された結晶構造因子との差が、所定の許容範囲に収まるまで前記いずれかの密度分布を逐次解法を繰り返しておこなうことにより、分子の原子位置、電子密度での電子結合状態または原子核密度を含めた構造を明らかにし、前記高分子材料のもつ機能を解明しうることを特徴とした物質の精密構造解析方法。
IPC (3):
G01N 23/20
, G06F 17/50 612
, G06F 17/50 638
FI (3):
G01N 23/20
, G06F 17/50 612 G
, G06F 17/50 638
F-Term (10):
2G001AA01
, 2G001AA04
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001CA04
, 2G001GA01
, 2G001HA01
, 2G001KA12
, 2G001LA01
, 5B046JA07
Article cited by the Patent:
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