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J-GLOBAL ID：200903054225527022

三次元計測装置

Inventor： 青砥 和明
Applicant, Patent owner： 株式会社ニコン
Agent (1)： 古谷 史旺 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995298629
Publication number (International publication number)：1997145318
Application date： Nov. 16, 1995
Publication date： Jun. 06, 1997
Summary：

【要約】【課題】 本発明は、物体を光学的にとらえてその物体の3次元における形状や位置を計測する3次元計測装置に関し、計測の効率化および自動化をはかることを目的とする。【解決手段】 外部から焦点が設定される光学系を有し、かつ既知の位置からその光学系を介して立体を2次元の像としてとらえてその像を示す画像情報を生成するカメラ11と、焦点を可変して設定しつつカメラ11によって生成された画像情報を取り込み、その画像情報の形式の下で像を示す個々の画素について、隣接する隣接画素とのコントラストが極大となる焦点を求める可変合焦手段13と、個々の画素について、可変合焦手段13によって求められた焦点の下で光学系がその画素に位置する像点に対して有する物点の位置を求める物点位置算出手段15とを備えて構成される。

Claim (excerpt)：

外部から焦点が設定される光学系を有し、かつ既知の位置からその光学系を介して立体を2次元の像としてとらえてその像を示す画像情報を生成するカメラ11と、前記焦点を可変して設定しつつ前記カメラ11によって生成された画像情報を取り込み、その画像情報の形式の下で前記像を示す個々の画素について、隣接する隣接画素とのコントラストが極大となる焦点を求める可変合焦手段13と、前記個々の画素について、前記可変合焦手段13によって求められた焦点の下で前記光学系がその画素に位置する像点に対して有する物点の位置を求める物点位置算出手段15とを備えたことを特徴とする三次元計測装置。

IPC (3)：

G01B 11/00 ,  G01B 11/24 ,  G06T 7/60

FI (3)：

G01B 11/00 H ,  G01B 11/24 K ,  G06F 15/70 365