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J-GLOBAL ID:200903054255299822

磁気共鳴検査装置及び高周波パルス波形算出方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 多田 公子 ,  宮川 佳三
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2007281531
Publication number (International publication number):2009106493
Application date: Oct. 30, 2007
Publication date: May. 21, 2009
Summary:
【課題】理想的な照射パターンの再現性に優れ、且つRF波形のパワーを低減したRFパルス波形を作成すること。および、そのようなRFパルスを用いた撮像を行なうことによりMRI被験者の安全性を向上させること。【解決手段】MRI装置は、高周波パルスを算出し、照射手段に適用する波形制御手段を備え、波形制御手段は、複数の高周波パルス波形ベクトルを格納する第1の記憶手段から高周波パルス波形ベクトルを読み出し、仮想照射パターンを算出し、理想照射パターンと仮想照射パターンについて、絶対値の差分の二乗と位相の差分の二乗との重み付け和の最小値を与える高周波パルス波形を算出する。【選択図】図2
Claim (excerpt):
傾斜磁場および高周波パルスを含む磁場パルスを検査対象に照射する照射手段と、理想照射パターンを実現するための高周波パルス波形を算出し、算出された波形の高周波パルスを前記照射手段に適用する波形制御手段と、前記磁場パルスの照射により前記検査対象から発生する核磁気共鳴信号を処理し画像化する画像化手段とを備え、 前記波形制御手段は、複数の高周波パルス波形ベクトルを格納する第1の記憶手段と、前記記憶手段から高周波パルス波形ベクトルを読み出し、仮想照射パターンを算出し、前記理想照射パターンと前記仮想照射パターンについて、絶対値の差分の二乗と位相の差分の二乗との重み付け和の最小値を与える高周波パルス波形を算出する計算手段とを有することを特徴とする磁気共鳴検査装置。
IPC (2):
A61B 5/055 ,  G01R 33/48
FI (2):
A61B5/05 311 ,  G01N24/08 520Y
F-Term (8):
4C096AA20 ,  4C096AB46 ,  4C096AB50 ,  4C096AD10 ,  4C096BB03 ,  4C096BB10 ,  4C096DB06 ,  4C096FB01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 米国特許4760336号

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