Pat
J-GLOBAL ID:200903054353149987

導電性カンチレバーを用いた走査型原子間力顕微鏡

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 蛭川 昌信 (外7名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993045286
Publication number (International publication number):1994258069
Application date: Mar. 05, 1993
Publication date: Sep. 16, 1994
Summary:
【要約】【目的】 電流の流れ易さによる見かけ上のカンチレバーと試料間の距離の変化を補正して正しくSTM像の観察もできるようにする。【構成】 導電性カンチレバーの変位を検出して原子間力顕微鏡像を、トンネル電流を検出して走査トンネル顕微鏡像を観察するようにした導電性カンチレバーを用いた走査型原子間力顕微鏡において、走査型トンネル顕微鏡像信号にカンチレバーの変位量分を加算して補正するようにしたことを特徴とする。
Claim (excerpt):
試料に対向配置された導電性カンチレバーと、導電性カンチレバーの変位を検出する変位検出器と、導電性カンチレバーと試料間にバイアス電圧を印加するバイアス電源と、導電性カンチレバーと試料との相対的位置を変化させるためのスキャナとを備え、導電性カンチレバーの変位を検出して原子間力顕微鏡像を、トンネル電流を検出して走査トンネル顕微鏡像を観察するようにした導電性カンチレバーを用いた走査型原子間力顕微鏡において、走査型トンネル顕微鏡像信号にカンチレバーの変位量分を加算して補正するようにしたことを特徴とする導電性カンチレバーを用いた走査型原子間力顕微鏡。
IPC (3):
G01B 21/30 ,  G01B 7/34 ,  H01J 37/28
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開平3-277903
  • 特開平4-212252

Return to Previous Page