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J-GLOBAL ID:200903054360693927

多重光スペクトルの同時分析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 丹羽 宏之
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000225071
Publication number (International publication number):2001091357
Application date: Jul. 26, 2000
Publication date: Apr. 06, 2001
Summary:
【要約】【課題】 数個の異なったスペクトルが同時に精度良く、測定および解析できる光スペクトル分析方法を提供すること。【解決手段】 光線は線状に配置された数個の結合開口部を有する結合装置を経て入力され、回折格子3にて反射され、90°変位プリズム13にて各々の光線に高さのズレが生ずる。再度回折格子3にて反射された後、線状に配置された個々の分離開口部を有する分離装置にて分離される。この構成により測定時に何の妨げもなく校正が出来るとともに、逆反射が殆ど無く、数本の光を同時に解析できるようになった。
Claim (excerpt):
数本の光線を結合する装置、前記結合装置からの発散している光線を平行に束ねるコリメーター、分散軸に沿って入力された上記光線を分散する装置、前記分散装置から入力される光線を分離する装置へと集光する集光装置とから構成される装置を備え、光軸が変更されるよう前記分散装置の分散軸に垂直に配置された数個の入力および出力開口部を有する数個の光スペクトルを同時に解析するための光スペクトル分析器において、入力光線は前記数個の独立に配置された入力開口部から装置を経て、前記出力開口部をへと出力され、前記光線の分離された波長を同時に測定することを特徴とする多重光スペクトルの同時分析方法。
IPC (5):
G01J 3/36 ,  G01J 3/02 ,  G01J 3/06 ,  G01J 3/18 ,  G02B 6/34
FI (5):
G01J 3/36 ,  G01J 3/02 C ,  G01J 3/06 ,  G01J 3/18 ,  G02B 6/34
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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