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J-GLOBAL ID：200903054564558247

状態解析装置及びソフトウエアプログラム

Inventor： 竹村 安弘 ,  中島 真人
Applicant, Patent owner： 住友大阪セメント株式会社 ,  学校法人慶應義塾
Agent (4)： 宮川 貞二 ,  内藤 忠雄 ,  柴田 茂夫 ,  金井 俊幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005104690
Publication number (International publication number)：2006280615
Application date： Mar. 31, 2005
Publication date： Oct. 19, 2006
Summary：

【課題】 対象物に周期的な動きがあるにもかかわらず存在しうる異常を判別することができる状態解析装置及びソフトウエアプログラムを提供する。【解決手段】 周期的な動きのある対象物2の状態を示す測定データに基づいて、判定対象時点の前後の第1の所定期間T1以前の第2の所定期間T2の周期的な動きの大きさに関するデータの確率分布と、前記第1の所定期間T1の周期的な動きの大きさに応じて、前記判定対象時点における前記対象物2の状態が異常か否かを判別する第1の状態判別手段24を備えるように構成されるので、対象物に周期的な動きがあるにもかかわらず存在しうる異常を判別することができる状態解析装置を提供することができる。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

周期的な動きのある対象物の状態を示す測定データに基づいて、判定対象時点の前後の第1の所定期間以前の第2の所定期間の周期的な動きの大きさに関するデータの確率分布と、前記第1の所定期間の周期的な動きの大きさに応じて、前記判定対象時点における前記対象物の状態が異常か否かを判別する第1の状態判別手段を備える; 状態解析装置。

IPC (1)：

A61B 5/11

FI (1)：

A61B5/10 310A

F-Term (6)：

4C038VA04 ,  4C038VA16 ,  4C038VB31 ,  4C038VB33 ,  4C038VC02 ,  4C038VC05

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 監視装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-372820   Applicant：学校法人慶應義塾, 住友大阪セメント株式会社