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J-GLOBAL ID：200903054670495025

計測内視鏡

Inventor： 田端 誠一郎 ,  栗田 裕之 ,  高橋 進 ,  崎山 勝則 ,  高山 敏一
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 篠原 泰司 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991275554
Publication number (International publication number)：1993087543
Application date： Oct. 23, 1991
Publication date： Apr. 06, 1993
Summary：

【要約】【目的】 測定光のコントラストのむらに影響されずに物体表面の凹凸を計測する。【構成】 波長可変光源23の前方にコリメートレンズ51cと光アイソレータ64が配設されている。光アイソレータ64を通過した光は結合レンズ65を介して偏波面保存光ファイバ18へ導入される。偏波面保存光ファイバ18内を伝搬した光はコリメートレンズ56を介して複屈折板20に入射せしめられる。複屈折板20と偏光板22を通過した光は直線型の干渉縞10を生成する。投影レンズ57を介して被測定物9の表面に形成された干渉縞10をカメラ11で撮像し、光強度の変化からコンピュータ12で物体表面の凹凸の深さ及び高さを縞走査法の原理で演算出力する。

Claim (excerpt)：

被測定物表面の凹凸の計測を行なう計測内視鏡において、被測定物表面上に干渉縞を生成する干渉縞生成手段と、該干渉縞を走査させる干渉縞走査手段と、該干渉縞の投影像を画像として撮像する撮像手段と、該撮像手段からの画像信号に基づいて前記被測定物表面の凹凸情報を演算する演算手段とを備えていることを特徴とする計測内視鏡。

IPC (4)：

G01B 11/24 ,  A61B 1/00 300 ,  G01B 11/30 102 ,  G02B 23/24