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J-GLOBAL ID:200903054762644469

上皮細胞成長因子受容体ターゲティング治療に対する癌の応答性を決定する方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 清水 初志 ,  新見 浩一
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2007506504
Publication number (International publication number):2007531525
Application date: Mar. 31, 2005
Publication date: Nov. 08, 2007
Summary:
本発明は、上皮細胞成長因子受容体(EGFR)治療に対する癌の応答を決定するための方法に向けられる。好ましい態様において、erbB 1遺伝子のキナーゼドメインにおける少なくとも1つの相違の存在は、チロシンキナーゼ阻害剤ゲフィチニブに対する感受性を与える。したがって、これらの突然変異の診断検査法により、最も薬物に応答しそうな患者に対して、ゲフィチニブ、エルロチニブ、およびその他のチロシンキナーゼ阻害剤を投与することができる。
Claim (excerpt):
野生型erbB 1遺伝子と比較して、患者のerbB 1遺伝子のキナーゼドメインにおける少なくとも1つの核酸相違の有無を検出する工程であって、少なくとも1つの核酸相違の存在は、EGFRターゲティング治療が有効である可能性が高いことを示す工程を含む、癌に冒されているか、または癌を発症するリスクがあるヒト患者における上皮細胞成長因子受容体(EGFR)ターゲティング治療の有効な可能性を決定するための方法。
IPC (15):
C12N 15/09 ,  C12Q 1/68 ,  C12Q 1/02 ,  C12Q 1/48 ,  C12N 9/12 ,  A61P 35/00 ,  A61K 45/00 ,  A61K 31/537 ,  A61K 31/517 ,  A61K 39/395 ,  A61K 38/00 ,  A61K 31/708 ,  A61K 31/713 ,  A61K 48/00 ,  G01N 33/573
FI (15):
C12N15/00 A ,  C12Q1/68 A ,  C12Q1/02 ,  C12Q1/48 Z ,  C12N9/12 ,  A61P35/00 ,  A61K45/00 ,  A61K31/5377 ,  A61K31/517 ,  A61K39/395 ,  A61K37/02 ,  A61K31/7088 ,  A61K31/713 ,  A61K48/00 ,  G01N33/573 A
F-Term (61):
4B024AA01 ,  4B024AA11 ,  4B024CA02 ,  4B024CA09 ,  4B024DA02 ,  4B024EA04 ,  4B024GA11 ,  4B024HA14 ,  4B024HA17 ,  4B050CC01 ,  4B050CC04 ,  4B050DD11 ,  4B050LL01 ,  4B050LL03 ,  4B063QA01 ,  4B063QA05 ,  4B063QA17 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ08 ,  4B063QQ27 ,  4B063QQ43 ,  4B063QR07 ,  4B063QR08 ,  4B063QR32 ,  4B063QR48 ,  4B063QR56 ,  4B063QR62 ,  4B063QR77 ,  4B063QR80 ,  4B063QS25 ,  4B063QS34 ,  4B063QX02 ,  4C084AA01 ,  4C084AA02 ,  4C084AA13 ,  4C084AA17 ,  4C084NA14 ,  4C084ZB26 ,  4C084ZC20 ,  4C085AA11 ,  4C085CC03 ,  4C085DD01 ,  4C085DD61 ,  4C086AA01 ,  4C086AA02 ,  4C086BC42 ,  4C086BC43 ,  4C086BC46 ,  4C086BC73 ,  4C086CB07 ,  4C086DA38 ,  4C086EA17 ,  4C086EA18 ,  4C086GA07 ,  4C086GA09 ,  4C086MA01 ,  4C086MA04 ,  4C086NA14 ,  4C086ZA81 ,  4C086ZB26 ,  4C086ZC20
Article cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

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