Pat
J-GLOBAL ID:200903054817513792
蛍光相関分析装置および蛍光相関分析方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
鈴江 武彦
, 村松 貞男
, 坪井 淳
, 河野 哲
, 風間 鉄也
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002238266
Publication number (International publication number):2004077294
Application date: Aug. 19, 2002
Publication date: Mar. 11, 2004
Summary:
【課題】FCSによる蛍光分子の計測において、蛍光分子を安定に解析するための蛍光相関分析装置および方法を提供すること。【解決手段】レーザ光源と;前記レーザ光源からの光ビームを試料に集光し共焦点領域を形成する光学系と;前記試料からの蛍光を集光する光学系と;集光した蛍光を検出する光検出器とを有し、前記試料に所定時間光ビームを照射後、前記光検出器により試料からの蛍光を検出し蛍光相関分析をおこなうとともに、同一試料について得られた異なる分析結果と総合して検査を行うことを特徴とする蛍光相関分析装置。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
レーザ光源と、
前記レーザ光源からの光ビームを試料に集光し共焦点領域を形成する光学系と、
前記試料からの蛍光を集光する光学系と、
集光した蛍光を検出する光検出器とを有し、
前記試料に所定時間光ビームを照射後、前記光検出器により試料からの蛍光を検出し蛍光相関分析をおこなうとともに、同一試料について得られた異なる分析結果と総合して検査を行うことを特徴とする蛍光相関分析装置。
IPC (2):
FI (4):
G01N21/64 E
, G01N21/64 B
, G01N21/64 F
, G01N33/483 C
F-Term (34):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043DA02
, 2G043DA06
, 2G043EA01
, 2G043FA02
, 2G043FA03
, 2G043HA02
, 2G043HA09
, 2G043HA15
, 2G043JA02
, 2G043KA09
, 2G043LA01
, 2G043NA01
, 2G043NA02
, 2G045CB01
, 2G045DA36
, 2G045FA12
, 2G045FA16
, 2G045FB07
, 2G045FB12
, 2G045GC15
, 2G045JA01
, 4B063QA01
, 4B063QQ05
, 4B063QQ79
, 4B063QR33
, 4B063QR60
, 4B063QR66
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, 4B063QR80
, 4B063QS05
, 4B063QS36
, 4B063QX02
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