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J-GLOBAL ID：200903054931228429
X線画像形成装置の幾何学的較正を行うための装置と、それを自動的に行う方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
越場 隆
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994024818
Publication number (International publication number)：1995016220
Application date： Jan. 27, 1994
Publication date： Jan. 20, 1995
Summary：
【要約】 (修正有)【目的】 X線源Sと、それと対向した2次元検出器Pとを有する回転式3次元X線画像形成装置の幾何学的較正を自動的に行う。【構成】 幾何学的較正装置は寸法が分かっている3次元ファントム8と、この3次元ファントムを2次元検出器P上に投射して得られた画像からX線画像形成装置の較正係数を算出するための測定手段とを有する。3次元ファントム8がX線吸収度がバックグラウンドとは異なる螺旋ビーズを有し、各ビーズはこの螺旋構造を同定するための順番で自動的に同定され、この同定は画像形成装置の全て回転位置で行える。
Claim (excerpt)：
幾何学的較正装置を備え、この幾何学的較正装置は寸法が分かっている3次元ファントムと、この3次元ファントムを2次元検出器上に投射して得られた画像からX線画像形成装置の較正係数を算出するための測定手段とを有する、X線管と、それと対応して配置された2次元検出器とを有する回転式3次元X線画像形成装置において、3次元ファントムがX線吸収度がバックグラウンドとは異なる段階的な一連のセル構造を有し、各セル構造はこのセル構造を同定するため順番付けられた特性によって自動的に同定され、この同定が画像形成装置の全て回転位置で行えることを特徴とする装置。
IPC (3)：
A61B 6/00 390
, A61B 6/03
, G03B 42/00
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (6)
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