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J-GLOBAL ID：200903055068169393

メッキ液の塩素濃度測定方法

Inventor： 屋根 剛 ,  溝畑 保廣
Applicant, Patent owner： 大日本スクリーン製造株式会社
Agent (1)： 間宮 武雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001160980
Publication number (International publication number)：2002350395
Application date： May. 29, 2001
Publication date： Dec. 04, 2002
Summary：

【要約】【課題】 メッキ液の塩素濃度が非常に低いときでも精度良く塩素濃度を測定することができる方法を提供する。【解決手段】 メッキ液12中に浸漬された対極14と作用極16との間に電圧を印加し、基準極18に対する作用極の電位が所定電位であるときに作用極と対極との間に流れる電流を計測し、予め作成しておいた検量線からメッキ液の塩素濃度を測定する方法において、メッキ液の塩素濃度を測定するごとに、温度センサ28でメッキ液の温度を測定し、測定温度により検量線を校正する。

Claim (excerpt)：

メッキ液中に浸漬された作用極と対極との間に電圧を印加し、基準極または前記対極に対する前記作用極の電位が所定の電位であるときに作用極と対極との間に流れる電流を計測し、予め作成しておいた検量線からメッキ液の塩素濃度を測定する方法において、メッキ液の塩素濃度を測定するごとに、メッキ液の温度を測定して、その測定温度により検量線を校正することを特徴とするメッキ液の塩素濃度測定方法。

IPC (4)：

G01N 27/416 ,  C25D 21/14 ,  G01N 27/26 371 ,  G01N 27/26 381

FI (4)：

C25D 21/14 B ,  G01N 27/26 371 F ,  G01N 27/26 381 A ,  G01N 27/46 316 Z