Pat
J-GLOBAL ID:200903055080492370
半導体装置
Inventor:
,
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (8):
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 中村 誠
, 蔵田 昌俊
, 峰 隆司
, 福原 淑弘
, 村松 貞男
, 橋本 良郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2006329521
Publication number (International publication number):2008147239
Application date: Dec. 06, 2006
Publication date: Jun. 26, 2008
Summary:
【課題】 製造プロセスの複雑化や製造コストの増大を招くことなく、デュアルメタルゲートCMOS構造を実現する。【解決手段】 基板上にn,pチャネルの各MISトランジスタ100,200を有する半導体装置であって、nMISトランジスタ100は、基板10上に形成されたp型半導体領域101と、p型半導体領域101上にゲート絶縁膜104を介して形成され、1モノレイヤー以上3nm以下の下層ゲート電極111と、下層ゲート電極111上に形成され、平均的な電気陰性度が下層ゲート電極111のそれより0.1以上小さい上層ゲート電極112とを含み、pMISトランジスタ200は、基板10上に形成されたn型半導体領域201と、n型半導体領域201上にゲート絶縁膜204を介して形成され、上層ゲート電極111と同一金属材料からなるゲート電極210とを含んで形成されている。【選択図】 図6
Claim (excerpt):
基板上にnチャネルMISトランジスタとpチャネルMISトランジスタが形成された半導体装置であって、
前記nチャネルMISトランジスタは、前記基板上に形成されたp型半導体領域と、前記p型半導体領域上に形成された第1のゲート絶縁膜と、前記第1のゲート絶縁膜上に形成され、膜厚が1モノレイヤー以上3nm以下である第1下層ゲート電極と、前記第1下層ゲート電極上に形成され、平均的な電気陰性度が第1下層ゲート電極の平均的な電気陰性度よりも0.1以上小さく、金属材料で形成された第1上層ゲート電極とを含んで形成され、
前記pチャネルMISトランジスタは、前記基板上に形成されたn型半導体領域と、前記n型半導体領域上に形成された第2のゲート絶縁膜と、前記第2のゲート絶縁膜上に形成され、前記金属材料で形成された第2ゲート電極とを含んで形成されていることを特徴とする半導体装置。
IPC (6):
H01L 21/823
, H01L 27/092
, H01L 21/28
, H01L 29/423
, H01L 29/49
, H01L 29/78
FI (4):
H01L27/08 321D
, H01L21/28 301R
, H01L29/58 G
, H01L29/78 301G
F-Term (51):
4M104AA01
, 4M104BB30
, 4M104BB32
, 4M104BB34
, 4M104BB37
, 4M104BB38
, 4M104BB39
, 4M104CC05
, 4M104DD37
, 4M104DD43
, 4M104DD65
, 4M104DD78
, 4M104EE03
, 4M104EE14
, 4M104EE16
, 4M104EE17
, 4M104FF13
, 4M104GG09
, 4M104GG10
, 4M104GG14
, 5F048AC03
, 5F048BA01
, 5F048BB09
, 5F048BB10
, 5F048BB11
, 5F048BB12
, 5F048BB14
, 5F048BC06
, 5F048BE03
, 5F048BG12
, 5F048BG13
, 5F048DA23
, 5F140AA40
, 5F140AB03
, 5F140BA01
, 5F140BD04
, 5F140BD13
, 5F140BF01
, 5F140BF06
, 5F140BF11
, 5F140BF16
, 5F140BF21
, 5F140BF26
, 5F140BF27
, 5F140BF31
, 5F140BF32
, 5F140BG08
, 5F140BG27
, 5F140BG28
, 5F140BG30
, 5F140CB01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
半導体装置およびその製造方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-374679
Applicant:株式会社ルネサステクノロジ
Return to Previous Page