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J-GLOBAL ID：200903055088912220
顕微鏡装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997102023
Publication number (International publication number)：1998293099
Application date： Apr. 18, 1997
Publication date： Nov. 04, 1998
Summary：
【要約】【課題】 光分解性試薬が光分解されて活性化された蛍光分子が結合している試料中のターゲットのみを検出し、試料中に引き起こされる反応を解析する。【解決手段】 分解用光源10から出力された分解光Aは、分解光照射時間制御部11および分解光照射範囲調整部12等を経て試料70に照射され、試料70に導入されている光分解性試薬を光分解する。一方、励起用光源20から出力されたパルス励起光Bは、励起光照射時間制御部21および分解光照射範囲調整部24等を経て試料70に照射され、光分解により生じた蛍光分子を励起する。試料70から発生した蛍光Cは、偏光ビームスプリッタ51等を経て、そのp偏光成分が光検出器53により撮像され、そのs偏光成分が光検出器54により撮像され、偏光解消度が演算部60により求められる。
Claim (excerpt)：
分解光を出力する分解用光源部と、前記分解光を試料に照射し、前記試料に導入されている光分解性試薬を光分解する分解用光学系と、直線偏光の励起光を出力する励起用光源部と、前記励起光を所定方向から前記試料に照射し、前記試料中の光分解性試薬が光分解されて放出された物質によって引き起こされる変化を検出するための蛍光分子を励起する励起用光学系と、前記励起光が前記試料に照射されて発生した蛍光を入力し、前記試料に照射されるときの前記励起光の偏光方位に平行な第1の偏光方位およびこれに直交する第2の偏光方位それぞれの直線偏光成分に分岐する受光光学系と、前記受光光学系により互いに分岐された前記蛍光の前記第1および前記第2の偏光方位それぞれの直線偏光成分をそれぞれ撮像する第1および第2の撮像手段と、前記第1および前記第2の撮像手段それぞれにより撮像された前記蛍光の前記第1および前記第2の偏光方位それぞれの直線偏光成分の画像に基づいて、前記蛍光の偏光解消の2次元画像を求める画像演算手段と、を備えることを特徴とする顕微鏡装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 21/78 C
, G01N 21/64 A
