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J-GLOBAL ID：200903055136792363
屈折率分布測定方法および装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
真田 修治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001208620
Publication number (International publication number)：2003021577
Application date： Jul. 09, 2001
Publication date： Jan. 24, 2003
Summary：
【要約】【課題】 軸対称の屈折率分布を有する光学系における屈折率分布を非破壊的に且つ高精度に計測する。【解決手段】 内側のコア部の屈折率がn1そして外側のクラッド部の屈折率がn2の光ファイバからなる該被検体41の外側のクラッド部と略一致する屈折率n2を有するマッチング液43で被検体41の周囲を覆う。マッチング液43は、被検体41を収容するマッチングセル42内に充填され、マッチングセル42には計測波を入射させてマッチング液43を介して被検体41に照射するための入射窓44および被検体41を透過した計測波をマッチング液43を介して外部に射出させるための射出窓45が設けられる。入射窓44の手前、および射出窓45の後方にそれぞれ第1の集光光学系としての第1の集光レンズ40、および第2の集光光学系としての第2の集光レンズ46を設けている。
Claim (excerpt)：
同一光源からの可干渉光を用い、軸線に対して軸対称となる屈折率分布を有する被検体の位相分布を干渉計測し、その結果に基づいて屈折率を算出するにあたり、前記被検体に対する照射光を、集光光学系により、前記被検体の前記軸線近傍に集光させることを特徴とする屈折率分布測定方法。
IPC (2)：
FI (3)：
G01M 11/02 H
, G01M 11/02 B
, G02B 6/00 A
