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J-GLOBAL ID：200903055305246497

流動粒子分析装置

Inventor： 大澤 昌彦
Applicant, Patent owner： 住友電気工業株式会社
Agent (1)： 深見 久郎 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995328552
Publication number (International publication number)：1997166541
Application date： Dec. 18, 1995
Publication date： Jun. 24, 1997
Summary：

【要約】【課題】 照射光の入射時の変動により測定値のばらつきを除去して、精度のよい安定した測定が可能な流動粒子分析装置を提供する。【解決手段】 フローセル4のシースフロー41に入射したレーザ光7の側方散乱光44を光検出器21で検出し、レーザ光7の中心軸とシースフロー41の中心との位置ずれを検出する。この位置ずれが所定の範囲内に入るようにCPU25がフローセル4のXY方向の位置をXY駆動手段30によって制御する。

Claim (excerpt)：

粒子浮遊液を高速に流す粒子液流送手段と、前記粒子液流送手段に所定の強度分布をもった光を照射する照射手段と、集光光学系を介して前記光による粒子からの散乱光または蛍光を受光する受光手段と、前記受光手段の受光信号処理を行なう信号処理手段と、前記信号処理手段からの信号をもとに前記粒子の分析を行なう粒子分析手段と、前記照射手段と前記粒子液流送手段との位置ずれを検出してその位置ずれ信号を出力する位置ずれ検出手段と、前記位置ずれ信号に基づいて前記粒子液流送手段の位置を補正する補正手段とを含む、流動粒子分析装置。