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J-GLOBAL ID：200903055347484258

X線画像内の物質のセグメンテーション方法および装置

Inventor： ミヒァエル グラスルック ,  カール シュティールシュトルファー
Applicant, Patent owner： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
Agent (1)： 山口 巖
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006281222
Publication number (International publication number)：2007111526
Application date： Oct. 16, 2006
Publication date： May. 10, 2007
Summary：

【課題】X線画像内の少なくとも1つの物質の安定なセグメンテーションを簡単に可能にする。【解決手段】X線画像(1)の各画素(2)に関して、異なるX線エネルギーE1,E2に対する2つの減弱値(3,4)が検出され、検出された減弱値(3,4)に基づいて、少なくとも1つの物質が一義的に割当てられた少なくとも1つの第1の分類範囲(6)を有する2次元の特性空間(5)内に、X線画像(1)の画素(2)が描出され、X線画像(1)の画素(2)に割当てられた画像周辺(10)が特性空間(5)内に描出されることから、第1の分類範囲(6)内に描出された画素の個数が評価量として求められ、評価量に基づいて各画素(2)に対して閾値との閾値比較が実行されることによって、セグメント化された画像が算出される。【選択図】図3

Claim (excerpt)：

X線画像(1)の各画素(2)に関して、異なるX線エネルギーE1,E2に対する2つの減弱値(3,4)が検出され、 検出された減弱値(3,4)に基づいて、少なくとも1つの物質が一義的に割当てられた少なくとも1つの第1の分類範囲(6)を有する2次元の特性空間(5)内に、X線画像(1)の画素(2)が描出され、 X線画像(1)の画素(2)に割当てられた画像周辺(10)が特性空間(5)内に描出されることから、第1の分類範囲(6)内に描出された画素の個数が評価量(11)として求められ、 評価量(11)に基づいて各画素(2)に対して閾値との閾値比較が実行されることによって、セグメント化された画像(14)が算出される ことを特徴とするX線画像内の物質のセグメンテーション方法。

IPC (1)：

A61B 6/03

FI (2)：

A61B6/03 360J ,  A61B6/03 373

F-Term (7)：

4C093AA22 ,  4C093CA15 ,  4C093EA07 ,  4C093FD09 ,  4C093FF16 ,  4C093FF19 ,  4C093FF27

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 米国特許第6754298号明細書