Pat
J-GLOBAL ID：200903055459866854
データ解析装置、データ解析方法およびデータ解析プログラム
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (2)：
吉田 研二
, 石田 純
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004021725
Publication number (International publication number)：2005214799
Application date： Jan. 29, 2004
Publication date： Aug. 11, 2005
Summary：
【課題】分析データの解析において、複数要素中の特定ピークを選出する簡易な方法の提供。【解決手段】複数の要素が含まれる対象サンプルの分析データに基づいて、複数のピークから特定の要素に起因するピークを選出するデータ解析装置10であって、対象サンプル分析データを取得する手段と、参照サンプル分析データを取得する手段と、対象サンプル分析データおよび参照サンプル分析データのそれぞれについて、ある着目ピークを、あらかじめ設定された閾値以上の強度のピークと、閾値未満の強度のピークとに分類する分類手段と、分類前後の着目ピークの強度に関する相互情報量を計算する計算手段と、複数の要素それぞれの相互情報量に基づいて、特定ピークを選出する選出手段と、を有し、分類手段において、参照サンプル分析データにおける着目ピーク強度の平均値に基づいて決定した平均値以上の値を閾値として設定する。【選択図】図3
Claim (excerpt)：
複数の要素が含まれる対象サンプルについて分析して得られる対象サンプル分析データに基づいて、前記対象サンプル分析データに含まれる複数のピークから前記複数の要素のうちの特定の要素に起因するピークを選出するデータ解析装置であって、
前記対象サンプル分析データを取得する手段と、
前記複数の要素のうち少なくとも1つの要素が除かれた参照サンプルについて分析して得られる参照サンプル分析データを取得する手段と、
前記対象サンプル分析データおよび前記参照サンプル分析データのそれぞれについて、ある着目ピークを、あらかじめ設定された閾値以上の強度を有するピークと、前記閾値未満の強度を有するピークとに分類する分類手段と、
前記分類の前後の前記着目ピークの強度に関する相互情報量を計算する計算手段と、
前記複数の要素それぞれについて得られる前記相互情報量に基づいて、前記特定要素に由来する特定ピークを選出する選出手段と、
を有し、
前記分類手段において、前記参照サンプル分析データにおける前記着目ピーク強度の平均値に基づいて決定した平均値以上の値を前記閾値として設定することを特徴とするデータ解析装置。
IPC (3)：
G01N23/225
, G01N23/227
, G01N27/62
G01N23/225
, G01N23/227
, G01N27/62 D
2G001AA01
, 2G001AA05
, 2G001BA06
, 2G001BA07
, 2G001CA03
, 2G001CA05
, 2G001FA02
, 2G001FA06
, 2G001FA17
, 2G001GA01
, 2G001HA01
, 2G001KA01
