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J-GLOBAL ID：200903055510706450

光送受信システムの模擬試験装置

Inventor： 長岡 信明
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993110177
Publication number (International publication number)：1994324146
Application date： May. 12, 1993
Publication date： Nov. 25, 1994
Summary：

【要約】【目的】この発明は、信頼性の高い高精度な光送受信模擬試験を実施し得るようにすることにある。【構成】環境模擬部12を光送受信部10と光反射部11を結ぶ光通路上に配設して、光通路を環境模擬部12により環境条件と等価の状態に設定するように構成し、所期の目的を達成したものである。

Claim (excerpt)：

光送信部から送信された光を光受信部で受けてなる光送受信システムの前記光送信部と光受信部を結ぶ光通路上に配設され、前記光が通過する環境を模擬する環境模擬部と、前記光通路上の環境条件に基づいて前記環境模擬部を制御し、前記光通路上の環境を環境条件に設定する環境設定部とを具備した光送受信システムの模擬試験装置。

IPC (7)：

G01S 17/74 ,  G08C 23/00 ,  G08C 25/00 ,  H04B 3/40 ,  H04B 3/46 ,  H04B 10/04 ,  H04B 10/06