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J-GLOBAL ID:200903055562373629
光ファイバーの検査システム及び検査方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
湯浅 恭三 (外6名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992309043
Publication number (International publication number):1994058840
Application date: Nov. 18, 1992
Publication date: Mar. 04, 1994
Summary:
【要約】 (修正有)【目的】 公衆電話回路網などの通信設備に用いられる光ファイバーを検査しモニタリングするためのシステムおよび方法を提供する。【構成】 供試光ファイバー14又は12の一端に光を入射する光源40と、供試光ファイバーの一端からの光を受けるパワー検知器42,44,46と、供試光ファイバーの他端に設けられた反射器58又は54と、光源と検知器とに作動的に接続されたモニター手段48,60とを有する。このモニター手段は、反射器によって反射された光パワーの基線測定ならびに反射器によって反射された光パワーの後続測定をおこなって、後続測定の結果を基線測定の結果と比較することにより前記反射器によって反射された光パワーに変化が生じているか否かを決定する。基線測定と後続測定とは、光源からの光パルス一個以内を用いて行われる。
Claim (excerpt):
通信に用いられる光ファイバーを検査するためのシステムにおいて、供試光ファイバーの一端に光を入射するように当該一端に接続可能な光源と、供試光ファイバーの前記一端からの光を受けるように当該一端に接続可能な光パワー検知器と、前記供試光ファイバーの他端に設けられた反射器と、前記光源と前記検知器とに作動的に接続されたモニター手段であって、前記反射器によって反射された光パワーの基線測定ならびに前記反射器によって反射された光パワーの後続測定をおこなって、後続測定結果を基線測定結果と比較することにより前記反射器によって反射された光パワーに変化が生じているか否かを決定するモニター手段とを有し、前記基線測定と前記後続測定とは、前記光源からの光パルス一個以内を用いて行われるシステム。
IPC (4):
G01M 11/00
, G02B 6/00
, H04B 3/46
, H04B 10/08
FI (2):
G02B 6/00 A
, H04B 9/00 K
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
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特開昭53-006059
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特公昭63-022694
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