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J-GLOBAL ID：200903055570624118

画像形成装置

Inventor： 中根 林太郎 ,  井出 直朗
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝 ,  東芝インテリジェントテクノロジ株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992280525
Publication number (International publication number)：1993204219
Application date： Sep. 24, 1992
Publication date： Aug. 13, 1993
Summary：

【要約】【目的】この発明の目的は、安定なカラ-バランス及び画像濃度を提供できる画像形成装置を提供することにある。【構成】この発明のプリンタ装置によれば、感光体ドラム10に印加される電荷の量即ち表面電位SPと現像装置14乃至20に印加される現像バイアス電圧VBDが、それぞれ独立に変化される。表面電位SPとバイアス電圧VBDを変化させるために、それぞれのの大きさが変化することで同様に変化されるコントラスト電位VC 及び背景電位VBGの変動量が表面電位センサ30を介して計測される。また、コントラスト電位VC 及び背景電位VBGの変動をより正確に推測するためにトナ-付着量センサ32を介して感光体ドラムに供給されるトナ-付着量Qが推測される。これらの推測結果に応じて、主帯電装置12からの出力と個々の現像装置14乃至20に印加される現像バイアス電圧VBDが主制御装置70を介して最適に制御される。

Claim (excerpt)：

回転可能に形成され、静電潜像が形成される像担持体に所望の電位を提供する帯電手段と、この帯電手段を介して帯電された上記像担持体に、画像デ-タに対応する光ビ-ムを照射する手段と、この照射手段によって光ビ-ムが照射されることで上記像担持体に形成された静電潜像を現像する手段と、上記像担持体に帯電された電位の大きさを、上記光ビ-ムが照射された領域即ち露光部領域と上記光ビ-ムが照射されていない領域即ち未露光部領域との双方に関し、上記像担持体が帯電された周回と同一の周回及び帯電されたのち少なくとも1回転された周回との少なくとも2周回で、少なくとも、2回計測する手段と、この計測手段を介して計測された上記露光部領域の電位の大きさを基に、上記像担持体の露光部領域に関する減衰特性を推測する第一の推測手段と、上記計測手段を介して計測された上記未露光部領域の電位の大きさを基に、上記像担持体の未露光部領域に関する減衰特性を推測する第二の推測手段と、上記第一の推測手段を介して推測された上記露光部領域に関する減衰特性と上記第二の推測手段を介して推測された上記未露光部領域に関する減衰特性とに基に、前記像担持体に提供されるべき帯電量及び前記現像手段に印加されるべき現像バイアス電圧を算出する算出手段と、この算出手段を介して算出された結果に基づいて、前記帯電手段の出力と前記現像手段に印加される現像バイアス電圧とを変更する変更手段とを含む画像形成装置。

IPC (7)：

G03G 15/00 303 ,  B41J 2/44 ,  B41J 2/525 ,  G03G 15/01 113 ,  G03G 15/02 102 ,  G03G 15/06 101 ,  G03G 15/08 115

FI (2)：

B41J 3/00 M ,  B41J 3/00 B