Pat

J-GLOBAL ID：200903055571232361

計測データ処理装置と計測デ-タの表示方法及び表示装置

Inventor： 木下 茂美 ,  福本 英士 ,  岡▲崎▼ 隆司 ,  大前 力
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 秋本 正実
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991239897
Publication number (International publication number)：1993079859
Application date： Sep. 19, 1991
Publication date： Mar. 30, 1993
Summary：

【要約】【目的】 実験装置から微小なサンプリング時間毎に得られる計測データを監視するに際し、この計測データの変化を見逃さない形態にて表示する。【構成】 実験装置の各所に取り付けた多数の計測装置2から夫々入力される計測データを一時記憶する記憶手段を備えるデータ収集装置41と、オペレータの選択指令を入力する入力手段13と、該入力手段13により選択された種類の計測データを前記データ収集装置41の記憶手段から取り出し表示制御演算器14にて加工し表示する表示装置10,11と、この記憶手段の記憶データの転送を受け蓄積する大容量記憶装置42とを有し、選択された種類のデータ点列の長時間に渡るマクロな変化をグラフ表示71a〜71gすると共に、このグラフ表示と同時且つ同一画面中に、選択されたデータ点列のうち最新所定時間範囲内の短時間のミクロな変化を拡大してグラフ72a〜72cとして表示する。

Claim (excerpt)：

時系列的に計測装置から出力される一連の多数のデ-タ点を収集し、収集したデータ点列を所定規則に従って加工し画面に表示する計測デ-タの表示方法において、前記データ点列のゆっくりした変化を表す長時間グラフと、該長時間グラフとは時間軸を異ならせた速い変化を表す短時間グラフとを同一画面上に同時に表示し、前記短時間グラフは新しいデ-タが入力されるたびに古いデ-タを捨てて新しいデ-タを追加しながら常に一定量のデ-タ点列を表示することを特徴とする計測デ-タの表示方法。

IPC (2)：

G01D 7/00 301 ,  G06F 15/74 330

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平2-206431
  
• 特開平1-138414
  
• 特開平1-233488