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J-GLOBAL ID：200903055708502272

平面検出器及びこれを用いたX線診断装置

Inventor： 富崎 隆之 ,  坂口 卓弥
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 三好 秀和 (外7名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999269539
Publication number (International publication number)：2000162320
Application date： Sep. 22, 1999
Publication date： Jun. 16, 2000
Summary：

【要約】【課題】 1枚の基板の表裏を有効に活用することにより、基板サイズを大きくすることなく、設計上の自由度を大きくする。【解決手段】 光電変換素子、容量及びTFTを含む画素と、これらの画素のTFTを介して信号を読み出す信号線とをガラス基板の表面に形成し、各画素を選択する垂直選択線をガラス基板の裏面に形成し、ガラス基板に電気的コンタクトを縦設して、このコンタクトによりTFTのゲートと垂直選択線とを接続する。信号線と垂直選択線とがガラス基板の厚みを介して交差し、その間の配線容量が減少する。

Claim (excerpt)：

基板と、この基板の片面に形成した第1の回路及び基板の他面に形成した第2の回路と、これら第1及び第2の回路が複数の光電変換素子、複数の容量及び複数のスイッチ素子を含むことと、前記基板に縦設され前記第1及び第2の回路を結ぶ電気コンタクトとを特徴とする平面検出器。

IPC (4)：

G01T 1/20 ,  A61B 6/00 300 ,  H01L 27/00 301 ,  H01L 27/14

FI (4)：

G01T 1/20 E ,  A61B 6/00 300 S ,  H01L 27/00 301 W ,  H01L 27/14 K