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J-GLOBAL ID：200903055753230909

オプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置及びこれに用いる可変波長光発生装置

Inventor： 大林 康二 ,  清水 公也 ,  宮澤 丈夫 ,  吉村 了行 ,  石井 啓之 ,  加藤 和利 ,  藤原 直樹 ,  浅香 航太 ,  佐藤 俊哉 ,  馬渡 宏泰
Applicant, Patent owner： 日本電信電話株式会社 ,  学校法人北里学園
Agent (3)： 光石 俊郎 ,  田中 康幸 ,  松元 洋
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005358432
Publication number (International publication number)：2007163241
Application date： Dec. 13, 2005
Publication date： Jun. 28, 2007
Summary：

【課題】走査する可変波長領域を拡大しても、高速で測定することが可能なオプティカル・コヒーレント・トモグラフィー装置及びこれに用いる可変波長光発生装置を提供する。【解決手段】波数走査範囲の異なる複数の可変波長光源1,2と、これらを同時に波長走査する制御回路26と、光源の夫々の出力光を測定光と参照光に分割するカプラ5,7と、測定光を合波して一つの測定光とするカプラ13と、測定光を測定対象に照射すると共に、反射又は後方散乱された信号光を捕捉する測定光照射系/信号光受光系23と、信号光を分割するカプラ13と、信号光と参照光とを個々に合波するカプラ6,8と、合波された個々の出力光の強度を光源の波数毎に測定する差動増幅器11,12と、測定された出力光の強度の集合から測定光が反射又は後方散乱された位置と反射又は後方散乱強度とを測定対象の奥行き方向に対して特定する演算制御装置22とを有する構成とする。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

波数走査範囲の異なる複数の可変波長光発生手段と、 前記複数の可変波長光発生手段を同時に波長走査する制御手段と、 前記複数の可変波長光発生手段の出力を夫々測定光と参照光に分割し、夫々の前記測定光を合波して測定対象に照射し、合波された前記測定光の束が測定対象によって反射又は後方散乱された信号光を分割して夫々の前記参照光と干渉させて干渉信号を発生する手段と、 前記複数の可変波長光発生手段の波数を同時に走査させながら測定した前記干渉信号の集合に基づいて、前記測定光が前記測定対象によって反射又は後方散乱された位置と反射又は後方散乱強度とを前記測定対象の奥行き方向に対して特定する手段と、 を有することを特徴とするオプティカル・コヒーレンス・トモグラフィー装置。

IPC (3)：

G01N 21/17 ,  G01N 21/01 ,  A61B 3/10

FI (4)：

G01N21/17 620 ,  G01N21/01 D ,  A61B3/10 R ,  A61B3/10 Z

F-Term (15)：

2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF02 ,  2G059FF08 ,  2G059GG01 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059LL01 ,  2G059MM01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 光干渉トモグラフィ用の可変波長光発生装置及び光干渉トモグラフィ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-276773   Applicant：日本電信電話株式会社, 学校法人北里学園
• オプティカル・コヒーレント・トモグラフィー装置及びこれに用いる可変波長光発生装置並びに可変波長発光光源
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-332764   Applicant：日本電信電話株式会社, 学校法人北里学園
• オプティカル・コヒーレント・トモグラフィ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2005-014650   Applicant：日本電信電話株式会社, 学校法人北里学園

Cited by examiner (6)

• グルコース濃度測定方法および測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-320439   Applicant：富士写真フイルム株式会社
• 光合波器および光ヘテロダイン検波装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-286388   Applicant：三洋電機株式会社
• 光干渉トモグラフィ用の可変波長光発生装置及び光干渉トモグラフィ装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-276773   Applicant：日本電信電話株式会社, 学校法人北里学園
• 並列光ヘテロダイン検出法を用いた光干渉計測方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-025459   Applicant：財団法人山形県企業振興公社
• つや計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-200680   Applicant：株式会社モリテックス
• 光計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-266504   Applicant：株式会社生体光情報研究所

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• “高速、高分解能 OFDR-OCT 2”
• “Wavelength-Tunable Semiconductor Light Sources for WDM Applications”