欠陥検査方法およびその装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (4)：古谷栄男 , 松下正 , 眞島宏明 , 鶴本祥文
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004102322
Publication number (International publication number)：2005283548
Application date： Mar. 31, 2004
Publication date： Oct. 13, 2005
Summary：

【課題】コンクリート構造物などの被検査体における内部欠陥を検出するとともに、欠陥部位に関わる情報を定量的に検出することのできる欠陥検査方法およびその装置を提供する。【解決手段】加熱制御手段11からの指令を受けて加熱装置17は、被検査体を加熱する。温度計測器19は、被検査体の表面温度を時系列で計測し、計測データを欠陥検査制御装置10のデータ記録手段13に出力する。波形比較手段16は、データ記録手段13に記録された計測データに基づいて参照波形の周期を変更しながら相関処理を行い最適な周期を取得する。取得した周期に基づいて、欠陥深さと参照波形の周期との関係を予め記録したパターンテーブルに当てはめることにより内部欠陥の深さを推定する。比較結果出力手段18は推定した内部欠陥の情報を出力する。【選択図】図1a

Claim (excerpt)：

被検査体の計測対象表面の全面に対して加熱を行い、少なくとも前記加熱を停止した後の加熱停止期間において、被検査体の計測対象表面の各単位領域における表面温度の時間変化を計測し、各単位領域における表面温度の時間変化と、健全部における表面温度の時間的変化の、所定周期成分における相違を、異なる周期成分について算出し、各周期成分ごとに得られた相違に基づいて、被検査体の各単位領域における欠陥を検出することを特徴とする欠陥検査方法。

IPC (3)：

G01N25/72 , G01J5/48 , G01N21/84

FI (3)：

G01N25/72 K , G01J5/48 A , G01N21/84 Z

F-Term (20)：

2G040AA05 , 2G040AB08 , 2G040BA16 , 2G040BA25 , 2G040CA02 , 2G040DA06 , 2G040EA01 , 2G040EB02 , 2G040EC09 , 2G040HA02 , 2G040HA06 , 2G040HA08 , 2G051AA90 , 2G051AB06 , 2G051CA04 , 2G051CA20 , 2G051EA12 , 2G066AC09 , 2G066BC15 , 2G066CA02

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

欠陥検査方法およびその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-280154 Applicant：阪上隆英, 住友大阪セメント株式会社, 株式会社中研コンサルタント, 株式会社コンステック
構造物検査装置、構造物検査用搬送車、及び、構造物検査方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-348255 Applicant：三菱重工業株式会社

Cited by examiner (1)

欠陥検査方法およびその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-280154 Applicant：阪上隆英, 住友大阪セメント株式会社, 株式会社中研コンサルタント, 株式会社コンステック

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

Cited by examiner (3)

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