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J-GLOBAL ID：200903055841694397
磁性粒子を用いた沈殿分画測定方法および測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993008084
Publication number (International publication number)：1994213900
Application date： Jan. 21, 1993
Publication date： Aug. 05, 1994
Summary：
【要約】【目的】本発明は、磁性粒子を用いた沈殿分画測定に関し、臨床検査に適用し得る簡便な沈殿分離操作の測定法を提供するものである。さらに自動分析装置に組み込むのに適した測定法を提供する。【構成】沈殿分画測定は、次の如き工程により実行される。(1)試料(A),沈殿試薬(B),磁性体粒子(C)の混合工程、(2)混合液の静置工程、(3)磁石52による不溶性物質の捕捉,除去工程、(4)上清を用いた分析工程。このような測定方法により臨床検査の効率化が達成される。
Claim (excerpt)：
反応容器に試料を注入し試料成分の一部を選択的に沈殿せしむる沈殿試薬と該沈殿成分と選択的な化学結合を生じぬ表面構造を有する磁性体粒子を添加する工程と、該磁性体粒子を含む混合液を一定時間沈殿生成させる工程と、沈殿生成後沈殿物と磁性体粒子の混合不溶物を磁力を用いて容器内に捕捉するか容器外に除去する工程と、捕捉または除去された沈殿物と磁性体粒子の該混合不溶物を除く上清を分析する工程とを含む沈殿分画測定方法。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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