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J-GLOBAL ID：200903055908548455

画像補正方法及び画像補正装置

Inventor： 澤田 誠一 ,  村上 一彦
Applicant, Patent owner： 中部電力株式会社 ,  株式会社中電シーティーアイ
Agent (1)： 千田 稔
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003392519
Publication number (International publication number)：2005157561
Application date： Nov. 21, 2003
Publication date： Jun. 16, 2005
Summary：

【課題】 より簡単な構成により画像中の陰影を除去すると同時に、画像中の大気による光の散乱・吸収等の影響による輝度値変異に対する画像補正を行うことが可能な画像処理方法を提供。【解決手段】 画像中、前記被写体上の陰影が現れている画像部位及び/又は大気の影響によって輝度値変異が現れている画像部位の被写体と、同一若しくは類似する反射特性を有する被写体が現れている画像部位を選択し、選択した各画素の波長帯域毎の輝度値の相加平均を説明変数、各画素の各波長帯域の輝度値を目的変数として回帰分析し、各画素の波長帯域毎に回帰式を生成。そして、前記画像中の前記影響が現れている画像部位を構成する画素ごとの各波長帯域の輝度値を、前記回帰式によって得られた画素ごとの各波長帯域の予測値で除した商を補正値として前記影響が現れている画像部位の画素ごとの各波長帯域の輝度値を補正し、画像中の前記影響が現れている画像部位を除去できる。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

複数の異なる波長帯域で撮影して得た画像において、被写体上に陰影が現れている画像部位及び/又は大気の影響によって輝度値変異が現れている画像部位の輝度値を補正するための画像補正方法であって、 画像中、前記被写体上の陰影が現れている画像部位及び/又は大気の影響によって輝度値変異が現れている画像部位の被写体と、同一若しくは類似する反射特性を有する被写体が現れている画像部位をサンプル部位として選択するステップと、 前記サンプル部位を構成する画素ごとの各波長帯域の輝度値の相加平均を説明変数、画素ごとの各波長帯域の輝度値を目的変数として回帰分析することにより、画素ごとの各波長帯域の予測値を得る回帰式を生成するステップと、 前記画像中の陰影部及び/又は大気の影響が現れている画像部位を構成する画素ごとの各波長帯域の輝度値を、前記回帰式によって得られた画素ごとの各波長帯域の予測値により除して得られる商を補正値として、前記陰影部及び/又は大気の影響が現れている画像部位の画素ごとの各波長帯域の輝度値を補正するステップと、 を備えることを特徴とする画像補正方法。

IPC (1)：

G06T5/00

FI (1)：

G06T5/00 100

F-Term (20)：

5B057BA02 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC03 ,  5B057CE09 ,  5B057CE11 ,  5B057CH01 ,  5B057CH09 ,  5B057DA08 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC22 ,  5B057DC25

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 地表画像の陰影処理方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-002880   Applicant：古野電気株式会社