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J-GLOBAL ID：200903055979575070

フラツクス残渣テスター

Inventor： 原田 学
Applicant, Patent owner： 株式会社マルコム
Agent (1)： 大井 正彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991276218
Publication number (International publication number)：1993087754
Application date： Sep. 30, 1991
Publication date： Apr. 06, 1993
Summary：

【要約】【目的】 プリント基板の局部的表面領域をテスト対象領域とすることができ、大きな洗浄力を作用させることができ、当該表面領域についてフラックス残渣の程度を高い信頼性で知ることのできるフラックス残渣テスターを提供する。【構成】 このフラックス残渣テスターは、フラックスの残留状態を検査すべきプリント基板の表面によって液密に塞がれる開口を有する洗浄室と、この洗浄室の開口を塞ぐプリント基板の表面領域に洗浄液による洗浄力を作用させる洗浄機構と、ポンプが介挿された洗浄液主循環路と、この洗浄液主循環路に設けられた導電率センサーと、洗浄液主循環路に切替え弁を介して接続された洗浄液副循環路と、この洗浄液副循環路に設けられた洗浄液浄化機構とよりなり、洗浄機構が擦過型洗浄機構および/または超音波発生機構よりなることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

フラックスの残留状態を検査すべきプリント基板の表面によって液密に塞がれる開口を有する洗浄室と、この洗浄室の開口を塞ぐプリント基板の表面領域に洗浄液による洗浄力を作用させる洗浄機構と、前記洗浄液を循環させるためのポンプが介挿された洗浄液主循環路と、この洗浄液主循環路に設けられた洗浄液の導電率を検出する導電率センサーと、前記洗浄液主循環路に切替え弁を介して接続された洗浄液副循環路と、この洗浄液副循環路に設けられた洗浄液浄化機構とよりなり、前記洗浄機構が、洗浄室の開口を塞ぐプリント基板の表面に擦過力を作用させる擦過型洗浄機構および/または洗浄室の開口を塞ぐプリント基板の表面に作用する洗浄液に超音波を作用させる超音波発生機構よりなることを特徴とするフラックス残渣テスター。

IPC (3)：

G01N 27/00 ,  G01N 27/06 ,  H05K 3/26