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J-GLOBAL ID：200903055982743715

光学装置の偏光感度を測定する装置

Inventor： ブライアン・エル・ヘフナー
Applicant, Patent owner： ヒューレット・パッカード・カンパニー
Agent (1)： 古谷 馨 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992238416
Publication number (International publication number)：1993209791
Application date： Sep. 07, 1992
Publication date： Aug. 20, 1993
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 試験中の光学装置の偏光状態を測定して、該光学装置の偏光感度を決定することのできる計器を提供すること。【構成】 光源40と偏光計10とを備えた計器8。光ビームは、空間フィルタとして作用する単一モード光ファイバ51,52を介して偏光計10に入る。光ファイバ51,52により惹起された光ビーム偏光の歪みは、二個の異なった直線偏光光ビームを導入することにより、かつ較正行列を構成するのに用いられるストークスパラメータを測定することにより補正される。三個の順次所定偏光状態は三個の対応するジョーンズ入力ベクトルを産出し、ストークスパラメータは三個のジョーンズ出力ベクトルに変換される。複素定数内への光回路に対するジョーンズ行列が、ジョーンズ入力及び出力ベクトルから計算される。相対偏光感度がこの光回路に対する行列から決定される。

Claim (excerpt)：

光の入射ビームの偏光を測定する偏光計において、光軸を有する光ビームを受光、ろ波し、該ろ波した光ビームの強度分布が該ビームの前記光軸の周りにほぼ均一となる光学空間フィルタと、前記ろ波された光ビームを四個の部分ビームに分離する手段と、第一の前記部分ビームの光路に配置され、それへ第一の偏光を伝える第一の光学要素と、第二の前記部分ビームの光路に配置され、それへ第二の偏光を伝える第二の光学要素と、第三の前記部分ビームの光路に配置され、それへ第三の偏光を伝える第三の光学要素と、それぞれが前記四個の部分ビームの異なった一個を受光し、その部分ビームの強度を表示する信号を供給する四個の光検出器と、該光検出器により供給される信号から前記光の入射ビームの偏光を計算する手段とを備えたことを特徴とする偏光計。