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J-GLOBAL ID：200903055983297344

青果物等の内部欠陥の検査方法

Inventor： 柴崎 久市
Applicant, Patent owner： 岸本 昭
Agent (1)： 渡辺 喜平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996238598
Publication number (International publication number)：1998062362
Application date： Aug. 21, 1996
Publication date： Mar. 06, 1998
Summary：

【要約】【課題】 検査試料の大きさや形状の相違により、青果物等における内部欠陥の検出が困難となることがあった。【解決手段】 X線を青果物等の検査試料に照射するX線管12と、同検査試料を透過した透過X線画像を撮影して画像メモリ32に記憶するX線撮像管20とを備えるとともに、画像メモリ32に記憶された透過X線画像の透過X線量の変化度合を測定して同透過X線量の特異変化部位を検出し、同特異変化部位が所定以上の寸法を有するか否かに基づいて鬆入り品か否かの判定を行う演算・判定回路33を備えることにより、検査試料の大きさや形状にとらわれることなく検査試料の内部欠陥を自動で検出することができる。

Claim (excerpt)：

X線を検査試料に照射してこの検査試料の透過X線画像を撮影し、上記透過X線画像にもとづいて上記検査試料の一端から別の一端へと至る概ね連続した断面ごとに透過X線の変化度合を測定して同透過X線の特異変化部位を検出するとともに、この特異変化部位が連続した所定寸法以上の長さを有するか否かを判定し、この特異変化部位が所定寸法以上の長さを有するときに検査試料内部に欠陥があるとする青果物等の内部欠陥の検査方法。