Pat

J-GLOBAL ID：200903056098482858

輪郭認識方法及びそれを用いた形状検査方法

Inventor： 常峰 豊彦 ,  小山 富聖
Applicant, Patent owner： 三洋電機株式会社
Agent (1)： 西野 卓嗣
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993088727
Publication number (International publication number)：1994300538
Application date： Apr. 15, 1993
Publication date： Oct. 28, 1994
Summary：

【要約】【目的】 物体の断面の輪郭を検出し、その形状を検査する。【構成】 認識対象物に向け所定の方向からスリット光を照射し、そこから反射されるスリット光画像を所定の方向から撮像する。このスリット光反射画像33をスリット光の長さ方向へ1画素幅づつに分割し、分割した1画素幅毎に、スリット光反射画像の各重心位置pを求め、その各重心位置データから1画素毎に、対象物のスリット光照射方向断面の外形位置を算出する。そして、あらかじめ設定された認識対象物の断面形状データと、算出した外形データとを比較し、許容値内にあるかどうかによって、認識対象物の形状の良否を判定する。

Claim (excerpt)：

認識する対象物にスリット光を照射し、対象物のスリット光照射部分を画像認識して、その対象物の輪郭を認識する方法であって、前記対象物に所定の方向からスリット光を照射し、前記対象物から反射されるスリット光画像を所定の方向から撮像し、前記スリット光反射画像をスリット光の長さ方向へ1画素幅づつに分割し、前記分割した1画素幅毎に、スリット光反射画像の各重心位置を求め、前記各重心位置データから、1画素毎に対象物のスリット光照射方向断面の外形位置を算出し、その断面の輪郭を認識することを特徴とする輪郭認識方法。

IPC (4)：

G01B 11/24 ,  G06F 15/62 405 ,  G06F 15/70 335 ,  H05K 3/34

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平1-242906
  
• 特開昭54-114264
  
• 特開昭63-026508