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J-GLOBAL ID:200903056132033324

分析装置及び分析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 日比谷 征彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992131990
Publication number (International publication number):1993302930
Application date: Apr. 24, 1992
Publication date: Nov. 16, 1993
Summary:
【要約】【目的】 装置構成が簡単でしかも複数の検査項目の分析が可能であり、分析に要する時間の短縮も可能な分析装置及び分析方法を提供する。【構成】 回転基板1の上面に分析対象物と結合する試薬部領域2が設けられている。回転基板1の下面の回転軸3とモータ4の回転軸5は接合部6で接合されている。ディスペンサ7によって試料液等の液体Sは回転基板1の試薬部領域2に必要量滴下され、モータ4の回転による遠心力によって除去される。また、光源8から試薬部領域2に光を照射し、光検出器9で試薬部領域2からの蛍光等を検出することで、試薬部領域2からの蛍光等を検出する。
Claim (excerpt):
試料液中の分析対象物と結合する試薬部領域が存在する回転部材と、少なくとも試料液を含む1種類以上の液体を前記回転部材上に供給する手段と、該供給される液体に応じて前記回転部材の回転数及びその保持時間を制御する手段と、前記試薬部領域の変化を光学的に検知する光学的検知手段とから成ることを特徴とする分析装置。
IPC (5):
G01N 35/04 ,  G01N 21/59 ,  G01N 21/64 ,  G01N 21/75 ,  G01N 33/543
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開平2-269938
  • 特開平2-232563

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