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J-GLOBAL ID：200903056147247452
X線検査装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
三好 秀和 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992061718
Publication number (International publication number)：1993264476
Application date： Mar. 18, 1992
Publication date： Oct. 12, 1993
Summary：
【要約】【目的】 本発明は、検査能率の向上とX線発生手段の長寿命化を図ることを目的とする。【構成】 X線発生手段3からX線遮蔽室1内に放射されるX線を遮蔽するX線遮蔽手段5と、X線遮蔽手段5に設けられX線発生手段3から被検査体へのX線の照射・停止を制御するX線照射・停止手段6とを有することを特徴とする。
Claim (excerpt)：
被検査体出し入れ用の試料扉を備え当該被検査体を収容するX線遮蔽室と、該X線遮蔽室内に設置されX線を発生するX線発生手段と、該X線発生手段から前記X線遮蔽室内に放射されるX線を遮蔽するX線遮蔽手段と、該X線遮蔽手段に設けられ前記X線発生手段から前記被検査体へのX線の照射・停止を制御するX線照射・停止手段と、前記被検査体の情報を含むX線を検出するX線検出手段とを有することを特徴とするX線検査装置。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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