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J-GLOBAL ID：200903056190517170

サンプル分類支援装置

Inventor： 三 浦 智 康 ,  鳥 谷 部 史 ,  植 田 益 規 ,  瀬 尾 利 数 ,  真 下 竜 実 ,  亀 井 章 弘
Applicant, Patent owner： 株式会社野村総合研究所
Agent (1)： 佐藤 一雄 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995252662
Publication number (International publication number)：1997097264
Application date： Sep. 29, 1995
Publication date： Apr. 08, 1997
Summary：

【要約】【課題】 サンプルイメージが把握しやすく、かつ、自由に分類する属性を組み合わせられるようにしたサンプル分類支援装置を提供する。【解決手段】 所定のサンプル集合を属性項目によって木構造状に分類したツリー2対して、属性項目を追加、変更、削除するツリー編集手段6と、ツリー編集手段6と連動し、ツリー編集手段6によって作成したツリーの構造に従ってサンプルを分類し、ツリー2の各ノードに対応するサンプルの情報を格納するツリーデータベース4を構築するツリーデータベース構築手段7と、分類ツリー2の各末端ノードに分類されたサンプルのばらつきの程度を評価する分類評価手段8とを備えた。

Claim (excerpt)：

所定のサンプル集合を属性項目によって木構造状に分類したツリー対して、前記属性項目を追加、変更、削除するツリー編集手段と、前記ツリー編集手段と連動し、前記ツリー編集手段によって作成したツリーの構造に従って前記サンプルを分類し、前記ツリーの各ノードに対応するサンプルの情報を格納するツリーデータベースを構築するツリーデータベース構築手段と、前記分類ツリーの各末端ノードに分類されたサンプルのばらつきの程度を評価する分類評価手段と、を備えたことを特徴とするサンプル分類支援装置。

IPC (2)：

G06F 17/30 ,  G06F 12/00 512

FI (3)：

G06F 15/401 310 D ,  G06F 12/00 512 ,  G06F 15/419 310