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J-GLOBAL ID：200903056199829514

放射線モニタ

Inventor： 石橋 三男
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992301940
Publication number (International publication number)：1994148334
Application date： Nov. 12, 1992
Publication date： May. 27, 1994
Summary：

【要約】【目的】本発明の目的は、バックグラウンドの変動に応じた最適な汚染計数時間の自動設定にある。【構成】 本発明は、被測定物をコンベア1に載せて搬送し被測定物の汚染状態を判定するものにおいて、バックグラウンドレベルを測定するバックグラウンド測定手段14と、バックグラウンド測定手段14により測定された測定値と予め定められている汚染管理レベルとからバックグラウンドを含まない真の計数値を前記汚染管理レベルの範囲内に入れる汚染計数時間を求める計数時間決定手段15と、前記計数時間決定手段15により決定された汚染計数時間に応じて前記コンベア1の速度を制御する速度制御手段11とを具備する。

Claim (excerpt)：

被測定物をコンベアに載せて搬送し、前記コンベアに対向配置された放射線検出器で前記被測定物から放出される放射線を所定時間に亘って計数し、その計数値及び汚染計数時間から前記被測定物の汚染状態を判定する放射線モニタにおいて、前記放射線検出器の設置場所におけるバックグラウンドレベルを測定するバックグラウンド測定手段と、前記バックグラウンド測定手段により測定された測定値と予め定められている汚染管理レベルとからバックグラウンドを含まない真の計数値を前記汚染管理レベルの範囲内に入れる汚染計数時間を求める計数時間決定手段と、前記計数時間決定手段により決定された汚染計数時間に応じて前記コンベアの速度を制御する速度制御手段とを具備したことを特徴とする放射線モニタ。

IPC (2)：

G01T 1/17 ,  G01T 1/167

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平4-320987
  
• 特開昭64-088177
  
• 特開昭61-061083
  
• 特開昭58-106483