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J-GLOBAL ID：200903056205450131
孔位置の計測方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
北村 欣一 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993289358
Publication number (International publication number)：1995139910
Application date： Nov. 18, 1993
Publication date： Jun. 02, 1995
Summary：
【要約】【目的】 孔部内で光線が反射するカラー付き孔部等の特殊な孔部であっても、その画像から孔部の中心位置を正確に計測できるようにする。【構成】 光源によりワークをワーク面に対し斜交する方向例えば斜め下方から照射し、ワークの孔部を撮像する。特殊な孔部であっても孔部の像のうち光源の配置側と同じ側の半部の形状は孔部の形状に対応したものになる。そして、この半部の孔縁上の複数の孔縁点?@〜?Hをピックアップし、これら孔縁点のうち所定の環状エリア内に存する点の座標に基づいて孔部の像を表わす回帰楕円を算定する。この回帰楕円の中心座標から孔部の中心位置を求める。
Claim (excerpt)：
ワークに形成した孔部を撮像し、撮像手段の画面上の孔部の像に基づいて孔部の中心位置を計測する方法において、ワークを照射する光源をその光源がワーク面に対し斜交するように配置し、孔部の像の孔縁のうち光源の配置側と同じ側に存する部分に合致する複数の孔縁点の座標から孔部の像を表わす回帰楕円を算定し、この回帰楕円の中心座標から孔部の中心位置を求めることを特徴とする孔位置の計測方法。
IPC (2)：
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